Z Y G O 公司是世界著名的测量和光学系统的专业制造企业，它集设计、制造与销售于一体，生产高端光学系统与器件。Z Y G O 的基于干涉原理的测量系统用于位移、表面形态和光波的测量，产品广泛应用于半导体、光学、通讯、航天、自动化及科研领域。
NewView™ 8000 系列是Z Y G O 公司研发的3D 光学表面轮廓仪，可以提供强大的多功能的非接触式光学表面形貌测量分析。所有的测量都无损、快速，并且不需要样品制备。强大的分析软件可以极其精准的描绘和定量分析表面粗糙度、台阶高度、关键尺寸和其它形貌特征。
对于各种表面结构，放大倍率及零件高度，可以实现小于1 纳米到20000 微米范围的快速测量。使用z y g o 专利的相干扫描干涉技术，N s e w V i e w8000 系列轮廓仪可以很容易的测量各种材质表面，包括光滑面、粗糙面、平面、斜坡面和台阶面等。
性能，价值和多功能性
N e w V i e w 8000 系列提供两种配置。可更换目镜的N e w V i e w 8200，和带3 个目镜切换器的NewView 8300 系统。
无论您选择哪个型号，所有的N e w V i e w 8000系统均能提供高精度测量，简单的操作，和广泛的应用，并且具有高性价比，使得它成为客户最理想的选择。
关键特点:
• 快速、非接触式测量
• 出色的3D 表面成像
• 亚埃级的纵向分辨率
• 尖端的精度和计量能力
• 强化的光学成像
• 两种模型可被选择：单一变倍和三重变倍
Mx 软件特点：
• 交互式的3D 图 – 变焦、全景、旋转，以及实时的更新结果。
• 灵活的分析 – 包含大量的量化分析结果、数据视图和滤波器。
• 直观的用户界面 – 流程化的设计使软件简单易学，操作简便。
• 嵌入SPC 分析 – 结果追踪，通过/ 失败监控，以及追踪数据处理统计。
• 针对特殊测试的需求，软件有专门的应用模块，比如透明薄膜的测量，以及2D。
• 可视化分析等，对于有需要的使用者，这些功能非常有帮助。
高级分析和控制软件
N e w V i e w 8000 系列轮廓仪使用全新的M x™ 软件，完整强大的系统控制和数据分析，包括丰富的交互式3D 图，量化的形貌信息，直观的测量导航，和嵌入的具有数据统计、控制图表和通过/ 失败限制的SPC。
灵活的配置
N e w V i e w8000 系列轮廓仪具有清晰的视野，开放的工作区域，使得测量安装和更换样品变得简单而快速。该系统配备各种工作台，从完全手动调节X / Y 轴和倾斜的工作台，到完全自动化的150m m 行程、4 度倾斜的工作台。还具有集成的隔振系统和紧凑的外形，非常适合台式安装；客户可以选配支撑和工作台来组建一个理想的生产型的测量系统。
