XT V 160：电子检测用纳米技术（NanoTech） X射线系统
XT V 160也被称为Revolution，是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。
    该系统提供了一个结构紧凑的系统内可能获得的最高分辨率和放大倍数，非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测。
    XT V 160是一款通用工具，使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。最为重要的是，它可用于计算机断层扫描CT检测，根据其完整的三维图像，重构该试样。
    设计用于100% BGA和μBGA 检测，多层板检测和PCB焊接点检测，XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便，分辨率高和成本低廉的检测解决方案，是检测实验室必不可少的骨干设备。

XT V 160检测优点

操作使用直观
能在很短的时间内获得高质量图像
市场领先的放大倍数，适用于100%板检测
75°倾斜视角（板平面的方位角为15°）
购置成本低
安全装置，可作为设计标准
占用空间小