METROTOM系统
 
在此之前不能检测或者只能通过耗费时间和成本的接口进行检测的场合，现在用断层扫描分析可以快速明确地检测出误差。

测量技术的革命

Metrotomography融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合，现在可以进行高精度和无损测量。

断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同测量评估，逆向工程应用或几何比较一样。

重要特征

METROTOM采用了深思熟虑的设计，它的3D计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器，同时还装备了用于装夹工件的转台和Zeiss的移动系统。METROTOM还具有安全技术。其拥有全防护的测量间，并且符合DIN 54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h在外罩)。同时，机器是基于人机工程学优化设计的（专用的上料位置）。
  
ZEISS旋转台，配有直接驱动         高敏感性的探测系统

久经考验的线性技术
自加工的精密机械组件
导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）
Zeiss原装旋转台，配有直接驱动
自产的气浮轴承
分辨率：0.036˝
最大负载（中心）：500N

传感器：微焦源X射线管

 高电压：10 – 225 keV
 电子管电流：5 – 3000 μA
 目标功率：320 W max.
 反射角：50°锥角
 有功发射角：30°锥角
 焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器
 带有高敏感性的探测系统
 1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT
 数字式无线电复制，形象逼真