1、日本电子株式会社JEOL离子束抛光机JIB-4000PLUS
产品介绍
JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后，能对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。 该设备能配置3D观察功能、自动TEM样品制备功能，能对应多种制样需求。
高性能FIB镜筒
JIB-4000PLUS采用高性能的FIB镜筒，最大离子束流高达 60 nA，可以扩展到90nA大束流（为可选件），能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，100 μｍ以上的大截面也可以在短时间内制成。
用户友好的FIB装置
JIB-4000PLUS高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性，外观和GUI设计都很友好。 即使没用过FIB也能够轻松操作； 此外，该装置小巧紧凑为业界最小体积，安装场所的选择范围很大。
双样品台
JIB-4000PLUS标配的块状样品马达驱动样品台可供块状样品使用，此外还可以增配侧插式测角台（TEM用Tip-on 样品架可以直接插入）。侧插式测角台与JEOL的TEM系统通用，这样，FIB加工和TEM观察的反复交替就能很容易地进行。
3D观察功能
为了进行3D观察，设备标配连续切片截面观察功能。JIB-4000PLUS虽然是单束FIB，但是可以通过SIM像进行3D观察。用3D重构软件，可以将收集到的截面图像重建为3D图像，可以从各种角度显示3D图像。
自动TEM制样功能
自动TEM制样功能 "STEMPLING" 是选配件。有了这个功能，制样不需要有很高的技能，任何人都能简单地制样，也可以对多个样品自动制样，提高工作效率。 :
丰富的附件
有各种附件可用来支持JIB-4000的操作。包括对电路修改应用特别有效的CAD导航系统，对特殊形状加工有效的矢量扫描系统等。通过给JIB-4000安装适当的附件，该系统可以支持样品制备以外的应用。
产品规格型号
轴数量 3轴
卧式／立式 通用
应用 用于光学仪器
其他特性 紧凑型, 高性能, 高速, 离子束, 铣刀, 大功率
X轴 11 mm(0 in)
Y轴 15 mm(1 in)
Z轴 最多: 23 mm(1 in)；最少: 1 mm(0 in)
2、日本电子株式会社JEOL离子束抛光机IB-19520CCP
产品介绍
IB-19520CCP在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。配有传送机构，在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。
冷却的效果 样品：镀锌钢板
可提供500μm/h（8KV/2小时的平均值）的研磨速率。
★ 进程监控功能
截面加工状态可通过CCD相机实时监控，倍率还可调整。
★ 防止充放电的喷镀功能
备有离子束溅射功能（选配项）
可以喷涂颗粒感良好的薄涂层。
最适合于象EBSD等需要花样识别等情况。
★ 平面离子减薄样品架
以小角度的离子束低角度照射样品，达到清除表面污垢、平滑表面等效果。
另外也非常适合于选择性蚀刻。
★ 截面样品制备单元
安装在平面离子减薄样品架上使用。该单元可用于在旋转样品的同时进行离子束加工。
可以用来制备象多孔质材料、粉末、纤维等容易出现加工条纹的样品的截面。
咨询电话：13522079385
产品规格型号
加工材料 用于金属
应用 用于制备试管
其他特性 表面, 平面, 数码, HSC
作业宽度 500 µm
