无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与无与伦比的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI独特的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。

• 2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
• 全量程0.1埃的分辨率
• 轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面
• RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
• 多语言版本的64位控制和分析软件