SVM Lite系列光学影像测量机是利用放大成像,将显微镜下观测到的物体影像数字化,结合控制软件进物体的几何测量以及绘图,并可将数据表格化以及进行后期处理。适用于机械、电子、电器、模具以及精密五金的检测和设计开发。
型号
|
SVM LITE 2515
|
SVM LITE 3020
|
SVM LITE 4030
|
测量行程
|
250×150×200
|
300×200×200
|
400×300×200
|
操作方式
|
手动
|
||
放大倍数
|
光学放大倍率:0.7×-4.5×;影像放大倍率:18×-120×
|
||
软件
|
VSM2.1
|
||
光学尺解析度
|
1um
|
||
机台承重
|
10KG
|
||
测量精度
|
(3+L/150)um
|
||
重复性
|
2um
|
||
使用环境
|
工作温度:18℃~22℃(可保证精度) 工作电压:220V±10%接地电阻小于4欧姆
|
||
保修期
|
一年
|