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Pinnacle光学式坐标测量仪
产地:上海
品牌:奥智品
编码:0
生产企业:奥智品光学仪器(上海)有限公司
Pinnacle光学式坐标测量仪,高精度合式测量系统 ·U2(XY平面)=(2.0+L/250)μm ·分辨率 0.1μm ·两个不同倍率光学系统 ·具有专利权的可编程环光(PRL) ·Windows 2000操作系统 ·自定义客户界面 ·独有的边缘寻边的算法程序
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